Kurzinfo:

• Messfrequenzen von kHz bis zu 90 GHz
• Zweikanaliger Vektorsignalanalysator für Amplituden- und Phasenmessungen im Nahfeld
• Austauschbare Nahfeldsonden für jede Feldkomponente
• Positioniervolumen von 50 cm x 80 cm x 50 cm
• Positioniergenauigkeit von 1 µm
• 3D-Scaneinheit für einen automatischen und kollisionsfreien Messablauf
• Messung von (Mikro-)Magneten
• Messung als Dienstleistung und Entwicklung kundenspezifischer Scanwerkzeuge

Der More-than-Moore-Trend bei der Montage elektronischer Systeme führt dazu, dass Komponenten immer kleiner werden und heterogene Funktionen mit kürzeren Schaltzeiten integriert werden. Parallel dazu sinkt das Signal-Rausch-Verhältnis, wodurch Schaltungen empfindlicher werden. Dies führt zu zunehmenden Problemen mit der elektromagnetischen Verträglichkeit (EMV).

Durch den Einsatz geeigneter EDA-Tools und Simulatoren ist es möglich, eine Vielzahl solcher Parameter bereits in der Entwurfsphase zu analysieren. Aufgrund der Komplexität moderner Systeme und der Größenunterschiede ihrer Komponenten werden die resultierenden 3D-Modelle jedoch extrem komplex oder sogar unbrauchbar. Dennoch muss unbedingt berücksichtigt werden, dass die Abstrahlungseigenschaften direkt vom Schaltverhalten der Schaltung und ihrer geometrischen Struktur bestimmt werden.

Nahfeldmesstechnik mit dem NFS3000 bietet eine Lösung für dieses Problem. Sie ermöglicht die präzise Erfassung schwacher elektrischer und magnetischer Felder im Frequenz- und Raumbereich mit einer Auflösung von einem Hundertstel Millimeter. Dies wird durch den optischen Höhenabtastung der Systemoberfläche ermöglicht. Diese präzise Nahfeldmessung kann zur Charakterisierung und Unterscheidung potenzieller elektromagnetischer Störquellen (EMI) in aktiven Systemen eingesetzt werden.

Dank dieser Eigenschaften lassen sich Konstruktionsfehler schnell und direkt in frühen Entwurfsphasen identifizieren und beheben. Mit Nahfeldmessungen und dem NFS3000 können elektromagnetische Schwachstellen in Systemen wie EMV-/EMI-Probleme, Fehlfunktionen oder sicherheitsrelevante Aspekte aufgedeckt werden. Anhand der Messergebnisse können Gegenmaßnahmen ohne langwierige Versuche erarbeitet werden.

Optimiertes Systemdesign durch Nahfeldmessungen

• Begleitung in der frühen Phase des Systemdesigns
• Visualisierung der elektrischen und magnetischen Feldverteilung in Größe und Phase
• Kombination von Nahfeldmessungen mit 3D-Vollwellensimulationen durch äquivalente Nahfeldquellen
• Nahfeld-Fernfeld-Transformation
• Abschätzung der Fernfeldabstrahlung ohne Messung in einer Absorberkammer
• EMV-konformes Systemdesign
• Sicherheits- und Funktionsanalyse

Anwendungsbereiche

• Leiterplattenentwicklung und -fertigung
• Chipindustrie
• Kommunikationselektronik und Funk
• Unterhaltungselektronik
• Luft- und Raumfahrt
• Leistungselektronik
• Drahtlose Energieübertragung
• EMV-Prüflabore / Testzentren
• HF-Systeme und Antennen
• 5G- und Radaranwendungen
• (Industrielles) Internet der Dinge