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Statisches High Power Semiconductor Testsystem STS8760NEO
Beschreibung
Das STS8760NEO Testsystem wurde für Hochgeschwindigkeitstests und präzise Prüfungen von mittel- bis hochleistungsfähigen Halbleiterkomponenten wie Dioden, MOSFETs und IGBTs über einen weiten Spannungsbereich hinweg entwickelt. Das System unterstützt eine umfassende Reihe von statischen Parametertests und verfügt über eine modulare Plattform mit einer offenen Schnittstelle, die zusätzliche Testoptionen ermöglicht, einschließlich DUT-spezifischer Widerstandsnetzwerke und Temperatursensoren.
- Kosteneffizientes Testen: Schnelle, hochvolumige Multistation-Fähigkeit senkt die Testkosten.
- Hohe Präzision: Die VXI 6-Wire Technologie und das Null-Leckage-Design gewährleisten genaue und reproduzierbare Ergebnisse.
- Modulare Flexibilität: Anpassbar für Hochspannungs- und Hochstromprüfungen.
Key Features: Bis zu 3.000 V | 2.400 A | Pulse > 100 ms
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